Agilent 8453
具备二极管阵列的优势，氘、钨双灯设计，波长范围190－1100mm，快速光谱扫描可获得全光谱信息，适用于样品鉴定和纯度验证。
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美国安捷伦油料微粒粒度分析仪
主要用于液压油中固体污染物的监控及粘性、挥发性药物中微粒粒径的分析，突破了以水为分散剂的限制，用于检测样品是否符合ISO，NAS，MIL-STD，NAVAir，USP等质量控制的工业标准
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DTS-2000
DTS-2000是聚光科技开发的新一代分布式光纤测温与火灾探测系统，利用激光在光纤中传输时产生的背向拉曼散射信号和光时域反射原理来获取空间温度分布信息。DTS-2000分布式光纤测温与火灾探测系统采用独特的光路设计和高性能光电器件，稳定性和可靠性...
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UT332
温度单位设置、自动保存时间间隔设置、湿度偏移设置、温度偏移设置、露点偏移设置、睡眠时间设置、系统时间设置
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1700/1710电压表/相序表
690V电压测量（AC/DC）
.相序检测
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K型热电偶
扁插式输入，适用于一般温度测量； 铁氟龙包覆绝缘隔离； 不适用于液体测量；
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JW-004A
BET比表面积及总孔体积测试仪是目前国内同类产品唯一获得高科技新产品证书的仪器，其自动化程度与测试精度均达到了国际先进水平，并已出口亚洲、欧州等多个国家。北京精微高博科学技术有限公司是我国最大的氮吸附仪研制、生产、销售的厂家，是国内唯...
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JW-004A
BET比表面及介孔分布测试仪是目前国内同类产品唯一获得高科技新产品证书的仪器，其自动化程度与测试精度均达到了国际先进水平，并已出口亚洲、欧州等多个国家。北京精微高博科学技术有限公司主要产品有：比表面仪,比表面积仪,比表面检测仪,比表面测...
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JW-004A
BET比表面及微孔分布测试仪是目前国内同类产品唯一获得高科技新产品证书的仪器，其自动化程度与测试精度均达到了国际先进水平，并已出口亚洲、欧州等多个国家。北京精微高博科学技术有限公司主要产品有：比表面仪,比表面积仪,比表面检测仪,比表面测...
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JW-004A
Langmuir比表面测量仪是目前国内同类产品唯一获得高科技新产品证书的仪器，其自动化程度与测试精度均达到了国际先进水平，并已出口亚洲、欧州等多个国家。北京精微高博科学技术有限公司主要产品有：比表面仪,比表面积仪,比表面检测仪,比表面测量仪,...
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JW-004A
BET比表面积及总孔体积测试仪是目前国内同类产品唯一获得高科技新产品证书的仪器，其自动化程度与测试精度均达到了国际先进水平，并已出口亚洲、欧州等多个国家。北京精微高博科学技术有限公司是我国最大的氮吸附仪研制、生产、销售的厂家，是国内唯...
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GSL—101BⅠ
本仪器采用Furanhofer衍射及Mie散射理论，测试过程不受温度变化、介质黏度、试样密度及表面状态 等诸多因素的影响，只要将待测样品均匀地展现于激光束中，即可获得准确的测试结果。而且区别于沉降法，由于不需要沉降过程，因此在一次测试中可以多次...
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JW-004A型
比表面积及孔径测量仪是目前国内同类产品唯一获得高科技新产品证书的仪器，其自动化程度与测试精度均达到了国际先进水平，并已出口亚洲、欧州等多个国家。北京精微高博科学技术有限公司主要产品有：比表面仪,比表面积仪,比表面检测仪,比表面测量仪,...
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JW-004A型
比表面积是单位质量物质的总表面积（㎡／g），是超细粉体材料特别是纳米材料最重要的物性之一。测定比表面的方法很多，其中氮吸附法是最常用、最可靠的方法，已列入国际标准和我国国家标准。 氮吸附法假定粉体的表面吸附了一层氮分子，已经知道每个...
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JW-004A
BET比表面的测定方法则没有上述的局限性。因为用氮吸附法测定比表面时，必须知道粉体表面对氮气的单层吸附量Vm ,而实际的吸附量V并非是单层吸附，即所谓多层吸附理论，通过对气体吸附过程的热力学与动力学分析，发现了实际的吸附量V与单层吸附量Vm之...
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JW-004A
BET比表面测试仪是目前国内同类产品唯一获得高科技新产品证书的仪器，其自动化程度与测试精度均达到了国际先进水平，并已出口亚洲、欧州等多个国家。北京精微高博科学技术有限公司主要产品有：比表面仪,比表面积仪,比表面检测仪,比表面测量仪,比表面...
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LYS—80型
LYS—80型无损检测X光底片数字化扫描系统是将X光底片通过扫描仪输入计算机，使底片图像转换为计算机可识别的数字化图像，并通过专用的图像处理软件，对其进行处理，分析评价及储存管理。从而实现了X光底片的计算机管理，建立完善的底片数据库管理系...
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KIF-10A-UW
低价格的小型LD干涉仪。手掌大小、操作简便。只要放置被检镜片，便可简单迅速地进行测定。
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KIF-PU
透过波面测定干涉仪KIF-PU是解析光学部品的透过波面像差的干涉仪系统。特别在光读取头用的生产线中，是最适合评价对物透镜以及准直透镜的透过波面的系统。
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KIF-10A-NW/NTW
应用了KIF-10A，用于测量光圈数目的测定仪。通过光圈数目与元器的比较，可简单地短时间内进行测定。因采用非接触的测定方式，不用担心会破坏镜片面以及元器。是在制造现场的工序测定中不可缺少的新检测工具。
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